在攻克納米級(jí)薄膜材料檢測(cè)的世界難題上，我國科技人員再出碩果，“功能薄膜材料物理性能檢測(cè)技術(shù)湖北省工程實(shí)驗(yàn)室”日前在武漢成立。
隨著新材料的發(fā)展與應(yīng)用，納米級(jí)薄膜材料在許多領(lǐng)域中被廣泛使用，國際上卻沒有可直接檢測(cè)薄膜熱特性的設(shè)備。1納米僅為1根頭發(fā)絲直徑的六萬分之一，如何檢測(cè)薄膜的熱特性成為國際難題，過去需要先把薄膜沉積得很厚，再把待測(cè)薄膜材料刮下來，形成一定質(zhì)量的粉末后，才能進(jìn)行破壞性檢測(cè)。
經(jīng)多年技術(shù)攻堅(jiān)，華中科技大學(xué)“長(zhǎng)江學(xué)者”繆向水教授團(tuán)隊(duì)研發(fā)出我國首臺(tái)光功率熱分析儀，檢測(cè)薄膜厚度可至5納米。據(jù)介紹，光功率熱分析儀是將激光照射到納米薄膜材料表面上，通過反射光功率檢測(cè)薄膜的相變溫度點(diǎn)和熱膨脹系數(shù)。
作為國內(nèi)首家功能薄膜材料物理性能檢測(cè)技術(shù)研究基地，本次組建省級(jí)工程實(shí)驗(yàn)室后，將下設(shè)薄膜材料熱分析、薄膜材料樣品制備與加工、薄膜材料電磁分析、薄膜材料力學(xué)分析、薄膜材料光學(xué)分析5個(gè)垂直研究實(shí)驗(yàn)室。
清華大學(xué)教授、國家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃專家組組長(zhǎng)潘峰表示，薄膜材料是對(duì)全球科技進(jìn)步的顛覆性技術(shù)，隨著薄膜技術(shù)越做越薄，需要顛覆性的測(cè)試設(shè)備，科技部已設(shè)立材料基因組重大研發(fā)專項(xiàng)，其中一個(gè)重要任務(wù)就是攻克高通量的表征檢測(cè)技術(shù)，湖北可依托薄膜檢測(cè)研發(fā)的領(lǐng)先優(yōu)勢(shì)，作出更大的科學(xué)貢獻(xiàn)。（文章來源于網(wǎng)絡(luò)）
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